「アバランシェフォトダイオードを画素に有するCISの最新の開発成果（TOF-測距システムへの応用を例として）」

カテゴリ	測定器開発室セミナー
開始	2018/10/05（金）13:30
終了	2018/10/05（金）15:00
会場	４号館３階会議室
講演タイトル	（仮）「アバランシェフォトダイオードを画素に有するCISの最新の開発成果（TOF-測距システムへの応用を例として）」
講演者	廣瀬裕氏（パナソニック株式会社ＡＩＳ社技術本部センシングソリューション開発センター　主幹技師）
言語	日本語/Japanese
連絡先	幅
ウェブサイト	http://rd.kek.jp/seminar_01.html
食堂・売店	利用予定なし／0

概要

シェフォトダイオードを画素に有するCISの初期のデバイス開発（2016ISSCC)から2018VLSI Symposiumで報告した最新のセンサ技術とそれを応用した長距離（250m）測距システムについて紹介する。

TV会議による遠隔からの接続も予定しておりますので、奮ってご参加ください。

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