本装置は、反射高速陽電子回折（RHEPD）法による表面低次元物質の構造解析に利用することができます。RHEPD法では、表面全反射と最低次ブラッグ反射の観測が可能であることから、高い精度で最表面の構造解析を行ことができます。実験には小径で高い平行性を持つ高強度陽電子ビームが必要です。そこで、本装置では、ガイド磁場から非磁場に取り出した陽電子ビームを用いています。2011年度には透過型再減速材を用いた高輝度化を行う予定です。
詳細情報はこちら https://www2.kek.jp/imss/spf/research/facility.html をご覧ください。
