物構研談話会(15-02)価電子1個を捉えるX線回折法の開発とYTiO3の軌道秩序観測
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| 開始 | 2015/06/11（木）15:30 |
| 終了 | 2015/06/11（木）16:30 |
| 会場 | 4号館2階輪講室1(main)／東海1号館324室(TV会議) |
| 講演者 | 坂倉 輝俊 先生 (東北大学 多元物質科学研究所) |
| 言語 | 日本語/Japanese |
| 連絡先 | 中尾裕則 (4868) |
| ウェブサイト | |
| 食堂・売店 | 利用予定なし／0 |
概要
多重散乱を回避した高精度なX線回折測定法は価電子1個の空間分布を明瞭に捉える事を可能とする。例としてYTiO3における軌道秩序観測を紹介する。また、このような高精度データが得られれば、実測から波動関数の結合係数等を定量的に 決定する事も可能である。その技術開発についても紹介する。
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