KEK素粒子原子核研究所・理論セミナー(小川 和久氏)

 
分類理論セミナー
開始2019/07/12(金)15:00
終了2019/07/12(金)16:00
会場研究本館3階セミナールーム322室
講演タイトルプローブを用いない弱値の直接測定法
講演者小川和久 氏 (北海道大学)
言語日本語/Japanese
連絡先izumi.tsutsui-AT-kek.jp
ウェブサイト
食堂・売店利用予定なし/0

概要

事前・事後選択されたシステム(事前・事後選択系)における弱い値は、典型的には弱測定によって測定され、そこではプローブ系は被測定系と弱い相互作用をする。しかし弱測定では、プローブ系として被測定系の他に追加の自由度を準備する必要性があるため、弱値測定のための実験系は一般に複雑になる。本研究では、事前・事後選択系がほとんど乱されないという従来の弱測定が持つ条件を保ちながら、プローブを用いずに弱値を直接測定する方法を提案する。この方法では、事前選択と事後選択の間に小さな変換が与えた時に、選択後の確率振幅の変化に小さな変換の微分の弱値が現れる。この方法は基本的に弱値を測定する全ての実験に適用することができ、弱値測定のための実験系を単純化することができる。

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