「アバランシェフォトダイオードを画素に有するCISの最新の開発成果(TOF-測距システムへの応用を例として)」

 
分類測定器開発室セミナー
開始2018/10/05(金)13:30
終了2018/10/05(金)15:00
会場4号館3階会議室
講演タイトル(仮)「アバランシェフォトダイオードを画素に有するCISの最新の開発成果(TOF-測距システムへの応用を例として)」
講演者廣瀬 裕氏(パナソニック株式会社 AIS社 技術本部 センシングソリューション開発センター 主幹技師)
言語日本語/Japanese
連絡先
ウェブサイトhttp://rd.kek.jp/seminar_01.html
食堂・売店利用予定なし/0

概要

シェフォトダイオードを画素に有するCISの初期のデバイス開発(2016ISSCC)から2018VLSI Symposiumで報告した最新のセンサ技術とそれを応用した長距離(250m)測距システムについて紹介する。

TV会議による遠隔からの接続も予定しておりますので、奮ってご参加ください。

  

TOP