測定器開発室セミナー/竜野 秀行氏

分類測定器開発室セミナー
開始2015/09/30(水)13:00
終了2015/09/30(水)14:30
会場4号館3階輪講室2
講演タイトル荷電粒子ビーム環境における超伝導遷移端X線検出器の性能評価
講演者竜野 秀行氏(KEK/NIST)
言語日本語/Japanese
連絡先junji.haba at kek.jp
ウェブサイトhttp://rd.kek.jp/seminar_01.html
食堂・売店利用予定なし/0

概要

 反陽子、パイ中間子、K中間子といったハドロンと原子核に働く強い相互作用を精密に調べるためには、負電荷のハドロンと原子核がクーロン束縛した系であるハドロニック原子のX線測定が有効である。特にストレンジクォークを含むKマイナス中間子は原子核と強い引力を及ぼすことが知られていて、近年、K中間子 の原子核束縛状態の存在も示唆されており、非常に興味深いシステムである。しかし、その強い相互作用の光学ポテンシャルの深さの解明には実験精度が不十分であり課題が残されている。
 我々は、超伝導遷移端(TES)X線検出器をK中間子原子分光に利用し、一桁以上の精度向上によってK中間子と原子核に働く強い相互作用の解明を目指している。本講演では、PSI(スイス) で行ったTESによるパイ中間子原子X線測定実験を基に、実験手法、6.4keV付近のX線エネルギーの絶対精度、荷電粒子が飛び交う環境におけるTESの性能評価やバックグラウンドについて報告し、分解能悪化の原因、改良可能性などを議論する。

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